IC外观检测设备设计(含三维模型)

IC外观检测设备

IC外观检测设备，通过CCD检测IC6个面是否OK，设备实现自动上下料，工位自动切换，CCD判断NG或OK对产品进行分拣，图纸为SW2017格式，可进行编辑。 IC外观检测设备.x_t(54.14MB)

作品编号:304739

图纸版本:通用文件格式

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